Mikroskopia

VEGA/SBH Tescan + EDS INCA PentaFET x3 Oxford Instruments

W skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM) skanowanie odbywa się przy pomocy zogniskowanej wiązki elektronów, które oddziaływują z atomami znajdującymi się na powierzchni próbki. Detektor SE zbiera elektrony wtórne, które pozwalają na obrazowanie szczegółów topografii powierzchni próbki. Detektor BSE wykrywa elektrony wstecznie rozproszone, dzięki czemu możliwe jest uzyskanie kontrastu fazowego. Promieniowanie rentgenowskie, wyemitowane podczas bombardowania próbki wiązką elektronów, zbiera detektor EDS. Pozwala to na analizę składu pierwiastkowego próbki.

Technika SEM umożliwia szczegółową analizę topografii powierzchni próbki oraz jej składu. Pomiar próbek przewodzących może być wykonywany bez wcześniejszego ich przygotowania. Na próbki, które nie są przewodzące musi zostać uprzednio napylona lub naparowana metaliczna warstwa przewodząca.

diInnova Bruker

Mikroskopia sił atomowych  opiera się na pomiarze lokalnych oddziaływań (m.in. van der Waalsa, elektrostatycznych, magnetycznych, kapilarnych czy odpychania jonowego) pomiędzy ostrzem skanującym a próbką. Mierzoną wartością jest wielkość ugięcia belki z ostrzem lub amplituda oscylacji sondy. Sposób prowadzenia pomiaru pozwala na detekcję różnego rodzaju oddziaływań na powierzchni próbki i ich wizualizację w postaci mapy rozkładu.

Możliwość pomiaru: topografii (chropowatości), spektroskopii sił, sił lateralnych, przesunięcia fazowego, mikroskopii modulowanej siły nacisku (FMM), nanoscratchingu, nanoindentacji, mikroskopii Kelvinowskiej (KPFM), mikroskopii sił elektrostatycznych (EFM), mikroskopii tunelowej (STM). Mikroskopia AFM może służyć m.in. do wyznaczania lokalnych właściwości mechanicznych, analizy chropowatości czy określenia grubości powłoki.

Nikon Eclipse MA200

Mikroskopia optyczna metalograficzna z możliwością pomiaru w jasnym oraz ciemnym polu, a także z kontrastem Nomarskiego. Metoda kontrastu interferencyjno-różniczkowego DIC Nomarskiego umożliwia analizę topografii powierzchni próbki  o nierównościach rzędu nanometrów, powoduje uwidocznienie struktur różniących się współczynnikiem załamania światła i prowadzi do powstania efektu światłocienia na obrazie oraz wrażenia jego przestrzenności. Dostępne powiększenia to 5, 10, 20, 50 i 100 razy.